吸水剖面测井沾污控制与校正处理

对吸水剖面测井中沾污形成的原因进行了分析 ,提出降低示踪剂的比强度和注入“冷球”两种控制吸水剖面测井沾污的新工艺。从理论上分析了如何对沾污进行校正 ,建立了沾污校正的解释模型。实际结果表明 ,对沾污进行校正后提高了吸水剖面测井的解释精度。

井温测井仪与ZDL-S电磁流量计挂接降低测井成本

在分析、研究ZDL -S电磁流量计的基础上 ,将井温测井仪与较先进的ZDL -S电磁流量计结合起来。经过对井温测井仪电路的改进 ,得到与原来性能不一样的新井温测井仪器 ,节约了成本 ,补充完善了吸水剖面测试技术 。