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题名无铅BGA枕头缺陷的研究
被引量:3
- 1
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作者
侯昌锦
王会芬
吴金昌
张亚非
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机构
上海交通大学微纳科学技术研究院
广达上海制造城表面贴装技术实验室
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出处
《电子工艺技术》
2012年第2期63-66,126,共5页
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基金
国家自然科学基金项目(项目编号:50730008)
上海市科技项目(项目编号:09JC1407400
1052nm02000)。
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文摘
BGA枕头焊点的锡膏和锡球完全没有融合成为一体,倒过来看就像头压在枕头上面。介绍了四种有效的检测方法。从设计、材料和工艺三方面分析了枕头缺陷的潜在影响因素。选取PCB玻璃态转化温度、钢网厚度、BGA贴装偏移量和回流焊炉链条速度四个因素进行两水平全因子实验设计,在成功复制枕头缺陷的基础上,分析了各因素的影响作用,得出了链条速度是最显著的影响因素。
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关键词
BGA焊点
枕头缺陷
DOE实验设计
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Keywords
Lead free BGA solder joint
Head-in-Pillow defect
DOE
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分类号
TN605
[电子电信—电路与系统]
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题名BGA焊点气泡的分布与原因探讨
被引量:6
- 2
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作者
王会芬
谢晓峰
吴金昌
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机构
广达上海制造城表面贴装技术实验室
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出处
《电子工艺技术》
2013年第2期96-99,共4页
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文摘
在笔记本生产行业,BGA焊点内存在气泡是一种普遍并且难以避免的现象。选用不同球径及合金成分的BGA进行回流焊,观察焊点内气泡的分布情况。结果发现,BGA内外部的温差会导致元件四个角落以及边缘比内部的气泡率大;此外BGA锡球与锡膏熔融时产生的时间差也会对气泡率的大小产生影响。该发现为产线有效降低气泡率提供了有力的依据,同时对PCB电路设计也具有一定的参考价值。
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关键词
BGA
气泡率
熔融时间差
温差
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Keywords
BGA
Solder void rate
Melting time difference
Temperature difference
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分类号
TN60
[电子电信—电路与系统]
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题名回流时间对焊点质量的影响
被引量:2
- 3
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作者
王会芬
吴金昌
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机构
广达上海制造城表面贴装技术实验室
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出处
《电子工艺技术》
2011年第3期136-137,159,共3页
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文摘
讨论了SnAgCu305焊料和Cu焊盘在不同回流时间下形成的金属间化合物的厚度和形貌,以及焊点内部的组织结构。通过剪切试验测得不同回流时间下得到的焊点强度。试验结果表明:回流时间较短时,IMC层的厚度随着时间的增大快速增长,随着时间推移最后IMC的厚度在5μm左右趋于稳定。焊点内部的组织形貌随着时间变化由等轴晶到枝状晶,最后变为柱状晶。回流时间在60s时焊点的抗剪切性能最佳。
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关键词
SnAgCu305
回流时间
金属间化合物
组织形貌
剪切强度
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Keywords
SnAgCu305
Soldering time
IMCs
Crystal morphology
Shear strength
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分类号
TN60
[电子电信—电路与系统]
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题名氮气回焊炉内氧浓度气氛对焊接的影响
被引量:1
- 4
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作者
王会芬
吴金昌
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机构
广达上海制造城表面贴装技术实验室
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出处
《电子工艺技术》
2013年第1期22-24,43,共4页
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文摘
目前厂内氮气炉的焊接气氛均是通过自带的氧浓度仪表进行控制。随着专业在线测试回流焊炉内氧浓度设备的产生及应用,发现炉内实际情况与回流焊炉仪表的显示值相差悬殊。研究分别选择氧气体积分数3×10-3、7×10-3、10×10-3、15×10-3、45×10-3、80×10-3以及空气进行回流焊接,对比焊点的外观、气泡率、焊点强度以及界面IMC,最后发现不同氧气体积分数气氛对焊接品质无明显的影响。
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关键词
氧浓度水平
焊点外观
气泡率
拉伸强度
界面化合物
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Keywords
Oxygen concentration level
Solder joint appearance
Void rate
Tensile strength
IMC
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分类号
TN605
[电子电信—电路与系统]
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题名热老化条件下SAC305焊点的界面反应
- 5
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作者
王会芬
侯昌锦
吴金昌
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机构
广达上海制造城表面贴装技术实验室
上海交通大学微纳科学技术研究院
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出处
《电子工艺技术》
2011年第6期346-348,372,共4页
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文摘
研究对比了BGA/SAC305/Cu双界面焊点和SAC305/Cu单界面焊点在150℃条件下经过不同时间的等温时效后界面化合物的形态,并对BGA/SAC305/Cu和SAC305/Cu焊点内部组织进行了观察。试验结果表明:随着时效时间的增加,焊点界面化合物的厚度逐渐增加,表面趋于平坦,且SAC305/Cu单界面焊点出现了明显的Cu3Sn层。
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关键词
时效处理
Cu6Sn5
Cu3Sn
Ag3Sn
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Keywords
Aging
Cu6Sn5
Cu3Sn
Ag3Sn
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分类号
TG42
[金属学及工艺—焊接]
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题名热压焊接工艺优化研究
- 6
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作者
杨芳
王会芬
吴金昌
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机构
广达上海制造城表面贴装技术实验室
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出处
《电子工艺技术》
2012年第1期14-17,共4页
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文摘
热压焊接是连接柔性电路板和刚性电路板的一种焊接工艺,作为微电子表面组装技术领域的新兴制造工艺和重要组成部分,稳定和高效的热压焊接工艺无疑是保证产品良好品质的重要环节。通过统计分析热压焊接的主要失效模式,并从材料、工艺参数及设备进行实验比对和实验设计(DOE)找出各主要失效模式的影响因素及其之间的相互关系,确定最佳工艺参数。
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关键词
热压焊接
实验设计
工艺优化
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Keywords
HotBar soldering
DOE
Process Optimization
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分类号
TN605
[电子电信—电路与系统]
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