超薄Fe(4)膜磁特性极化中子反射研究

利用分子束外延薄膜生长技术,制备了200V/4Fe/900V/MgO(100)薄膜样品,通过X射线反射和极化中子反射两种测量手段获得了薄膜的表面、界面及各层膜厚的相关结构信息.中子反射结果表明,Fe原子磁矩在室温下约为1.0±0.1μB,随着温度的降低,Fe原子磁矩增加,在10K时达到1.5±0.1μB.利用指数定律拟合磁矩随温度的变化情况,外推得出4铁薄膜样品的居里温度约为310±30K.