非晶Nd-Fe薄膜电阻的温度效应与非晶稳定性

用闪光蒸镀法在77K制备了Nd_xFe_(1-x)(x=0.06-0.80)非晶薄膜,原位测定了其电阻随温度的变化。结果表明:在0.19<x<0.50的成分范围内,非晶膜在室温下是稳定的。在晶化以前,薄膜的比电阻与温度的关系可分为三个阶段,即ρ(T)∝InT,ρ(T)∝T^2和ρ(T)∝T。晶化不是在一个固定的温度,而是在一个温度区间发生。