惠瑞捷HSM3G高速存储器测试方案为未来三代内存提供低廉测试成本

近日，惠瑞捷（Verigy）公司（纳斯达克代码：VRGY）宣布推出全新的HSM3G高速存储器测试解决方案，进一步拓展了面向DDR3世代主流存储器IC和更高级存储器件测试能力的V93000HSM平台。V93000HSM3G独特的优势在于其未来的可升级性，能够为未来数据传输速度高达6．8Gb／s的三代DDR存储器提供价格低廉的测试服务，从而前所未有地长期节约经济成本。

OKI选用惠瑞捷V93000 Port Scale射频测试解决方案

半导体测试公司惠瑞捷宣布，日本冲电气工业株式会社OKI选用惠瑞捷PortScale射频测试解决方案以测试其高集成度无线通信芯片。OKI的芯片目前已被消费电子制造商广泛地应用于各种终端产品的制造当中，其中包括：机顶盒，手机，掌上电脑和其它无线产品等等。OKI亦利用其在封装技术方面的优势向其它制造商提供封装与测试服务，而PortScale射频测试方案将为OKI的测试服务业务进一步提供更多价值。惠瑞捷PortScale射频测试解决方案凭借其独到的性能、具有优势的测试成本、v93000平台的可靠性和可扩展性以及遍布全球的高质量应用测试服务支持最终获得OKI的青睐，在众多候选方案中脱颖而出。

惠瑞捷连续第三年荣膺VLSI Research五星级客户满意度大奖

爱德万集刚旗下公iq惠瑞捷住VLSIResearch 的2011年芯片制造设备客户满意度调查中连续第三年获得五星级大奖。在今年荣获五星级大奖的14家半导体设备公司中，惠瑞捷再次成为唯一的系统级芯片（SOC）和存储器测试没备制造商。