还原富钙CaGe:YIG薄膜铁磁共振谱中的分层体模

一、前言 磁性薄膜的铁磁共振谱测量是探测薄膜磁性物理的一个重要手段,由铁磁共振谱随外磁场与膜法线所成角度的变化及其温度特性,可提供丰富的有关薄膜各向异性、表面状况和体不均匀性等多方面的信息。

富钙CaGe:YIG薄膜铁磁共振线宽随外场角度的变化

铁磁共振线宽关系到材料的微波损耗。富钙CaGe:YIG薄膜具有磁矩的异常补偿点和电导率的光效应等有趣特性。因此研究其共振线宽随外磁场方向的变化是很有必要的。曾有人对Ca:YIG薄膜的线宽与外场方向的关系用涡流机制进行过解释。这一损耗机制在Ca:YIG薄膜中也为线宽随面积而增加的观测结果所证实。通常认为,Fe^(4+)快弛豫离子(与Ca^(2+)或电价平衡)是Ca:YIG薄膜线宽的一个主要来源。有人以过腐蚀减薄的方法,研究了Ca:YIG薄膜的线宽与厚度的关系。