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合金分析的归一化方法及镀层识别
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作者 曹利国 丁益民 刘亚平 《核技术》 CAS CSCD 北大核心 1997年第1期44-48,共5页
用归一化含量计算方法求取异形试样中的合金成分,并用不同能量激发源发同一试样,根据归一化含量的差别。
关键词 X射线荧光分析 贵金属 合金 镀层
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