微波组件在密封试验中失效分析及对策

微波组件的失效与所承受的外界应力紧密相关,通过采用设计改进措施降低薄弱部位承受外界应力的影响,提高产品的可靠性,通过对某型微波组件在密封试验中结构件变形失效的案例分析,提出了采用盖板加固措施,通过了GJB360B方法112条件C试验验证,满足了微波组件在整机上的使用要求,防止在压力环境中盖板变形造成开裂及产品失效。