基于高密度遗传图谱的玉米抗倒伏相关性状QTL分析

倒伏是影响玉米高产稳产的重要因素,解析玉米抗倒性遗传机制对选育抗倒玉米新品种具有重要意义。本研究以T877×DH1M重组自交系为试验材料,对7个抗倒伏相关的性状进行表型调查和分析,结合高密度遗传图谱进行QTL定位。主要结果如下:T877和DH1M在茎长、茎秆硬皮穿刺强度、茎秆抗拉弯强度、茎压碎强度、穗位高等性状上存在显著差异,这些性状在RIL群体中存在广泛的遗传变异。本文研究的7个性状均表现出连续变异的特点,基本符合正态分布,属于典型的数量性状。相关分析表明茎杆强度相关性状(茎秆硬皮穿刺强度,茎秆抗拉弯强度和茎秆垂直压碎强度)相互间存在明显的正相关(r=0.430～0.772),并且与茎粗存在显著正相关(r=0.254～0.649)。对株高、穗位高、第三节茎长、茎粗、茎秆硬皮穿刺强度、茎秆抗拉弯强度和茎秆垂直压碎强度7个性状进行QTL定位,共计定位到22个QTL,每个性状能检测到1～6个QTL,单个QTL仅能解释5.04%～10.36%,表明这些性状主要受到多个微效位点的控制。研究结果将为玉米抗倒伏分子育种提供理论依据。