创新结构提高高压膜箔式电容器过电流能力

老结构膜箔式电容器承受dv/dt(电压爬升及释放速率)的能力存在不足,不适应现代工业、医疗、军事等电力电子装备的发展。通过改进或创新结构的方法,使产品承受dv/dt的能力提升幅度可达20～50%。

正交试验在薄膜电容器设计及工艺试验中的应用

利用正交试验法来解决多因素多水平配合问题,是把复杂问题简单化和优选最佳工艺方案的有效途径。本文介绍了热压工艺的优选,有利于同行交流互补。