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题名粉末压片-X射线荧光光谱法测定钒渣中的化学成分
被引量:11
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作者
陈荣庆
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机构
攀钢技术质量部化验科
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出处
《光谱实验室》
CAS
CSCD
2008年第3期416-420,共5页
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文摘
采用试样粉末直接压片,基体效应用仪器软件方法校正,谱线重叠干扰以本文提出的"干扰增量法"测量与计算出重叠校正系数K,输入仪器自动校正。用X射线荧光光谱法测定了钒渣中V2O5,SiO2,A l2O3,CaO,MgO,MnO,TiO2,Cr2O3,S,P含量。该方法测定钒渣标样的结果与认可值符合良好,试样9次压片测定各成分的相对标准偏差在0.09%—0.64%范围内。
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关键词
粉末压片
X射线荧光光谱
钒渣
干扰增量法
谱线重叠校正
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Keywords
Powder Pressed Slice
X-Ray Fluorescence Spectrometry
Vanadium Slag
Interference Incremental Method
Spectra Overlap Correction
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分类号
O657.34
[理学—分析化学]
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