期刊导航
期刊开放获取
河南省图书馆
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
1
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式:
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
系统电源循环通断的测试仪
1
作者
Goh Ban Hok
《电子设计技术 EDN CHINA》
2008年第10期88-88,共1页
上电循环测试非常重要,因为它测试的是用户环境。设计不良的系统板或芯片会造成上电循环测试失败。此外,对系统板工作台测试时.上电循环测试的设置可能需要采用沉重而昂贵的商用电源。当需要同时测试多块系统板时,情况更加糟糕。
关键词
系统电源
测试仪
循环
通断
系统板
用户环境
工作台
芯片
原文传递
题名
系统电源循环通断的测试仪
1
作者
Goh Ban Hok
机构
新加坡英飞凌亚太技术有限公司
出处
《电子设计技术 EDN CHINA》
2008年第10期88-88,共1页
文摘
上电循环测试非常重要,因为它测试的是用户环境。设计不良的系统板或芯片会造成上电循环测试失败。此外,对系统板工作台测试时.上电循环测试的设置可能需要采用沉重而昂贵的商用电源。当需要同时测试多块系统板时,情况更加糟糕。
关键词
系统电源
测试仪
循环
通断
系统板
用户环境
工作台
芯片
分类号
TP273 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
TM352 [电气工程—电机]
原文传递
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
系统电源循环通断的测试仪
Goh Ban Hok
《电子设计技术 EDN CHINA》
2008
0
原文传递
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部