1
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美、日、韩的半导体竞争 |
翁寿松
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《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
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1994 |
3
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2
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压控晶体振荡器及其调频变容二极管 |
翁寿松
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《半导体情报》
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2000 |
4
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3
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SM1021C型二极管自动测试仪V_R测试重复性差的故障分析 |
顾约平
翁寿松
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《电子工业专用设备》
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1993 |
1
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4
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日本半导体制造设备市场开始走向衰退 |
翁寿松
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《电子工业专用设备》
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1993 |
1
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5
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台湾IC跨入ULSI时代 |
翁寿松
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《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
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1993 |
0 |
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6
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电子元器件的失效率 |
翁寿松
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《印制电路信息》
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1995 |
0 |
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7
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1995—2000年半导体设备的主攻方向──300mm圆片设备 |
翁寿松
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《电子工业专用设备》
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1995 |
0 |
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8
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当前半导体制造设备的几个新概念 |
翁寿松
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《电子工业专用设备》
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1994 |
0 |
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9
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军用半导体器件的贮存理论与试验 |
翁寿松
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《电子产品可靠性与环境试验》
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1994 |
0 |
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10
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半导体设备制造中的无尘生产技术 |
翁寿松
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《电子工业专用设备》
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1994 |
0 |
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11
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美日韩的半导体设备竞争 |
翁寿松
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《电子工业专用设备》
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1996 |
0 |
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12
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再论军用半导体器件的贮存期及“延寿试验” |
翁寿松
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《半导体杂志》
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1994 |
0 |
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13
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表面元器件组装技术与设备 |
翁寿松
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《电子工业专用设备》
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1993 |
0 |
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14
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2000年左右美,日将批量生产12英寸大圆片 |
翁寿松
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《上海微电子技术和应用》
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1996 |
0 |
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15
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电子元器件的失效率 |
翁寿松
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《电子元件质量》
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1995 |
0 |
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16
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用于半导体、液晶显示器检查的欧林巴斯显微镜 |
翁寿松
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《电子工业专用设备》
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1996 |
0 |
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