超声全聚焦法成像检测缺陷表征

超声相控阵(PAUT)全聚焦法是对图像重建区每一点作最佳聚焦的高级方法。本文展示用两种全聚焦法对均匀介质中的缺陷进行表征的实验结果:偏移法对横孔和水平线槽的重建图像,信噪比高、分辨力优,而标准法对倾斜线槽成像表征优。两法活用对PAUT缺陷表征颇有前景。