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我国集成电路测试技术现状及发展策略
被引量:
32
1
作者
俞建峰
陈翔
杨雪瑛
《中国测试》
CAS
2009年第3期1-5,共5页
集成电路在现代电子整机中的应用比重已超过25%,测试是分析集成电路缺陷的最好工具,通过测试可以提高集成电路的成品率。通过分析我国集成电路产业现状,论述我国集成电路的设计验证测试、晶圆测试、芯片测试、封装测试等关键测试环节的...
集成电路在现代电子整机中的应用比重已超过25%,测试是分析集成电路缺陷的最好工具,通过测试可以提高集成电路的成品率。通过分析我国集成电路产业现状,论述我国集成电路的设计验证测试、晶圆测试、芯片测试、封装测试等关键测试环节的技术水平,提出进一步发展我国集成电路测试产业的相关建议。
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关键词
集成电路
设计验证
晶圆测试
芯片测试
封装测试
发展策略
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职称材料
题名
我国集成电路测试技术现状及发展策略
被引量:
32
1
作者
俞建峰
陈翔
杨雪瑛
机构
江苏出入境检验检疫局机电产品检测中心
无锡质量技术服务公司技术部
出处
《中国测试》
CAS
2009年第3期1-5,共5页
基金
国家质量监督检验检疫总局科技项目(2008IK078)
文摘
集成电路在现代电子整机中的应用比重已超过25%,测试是分析集成电路缺陷的最好工具,通过测试可以提高集成电路的成品率。通过分析我国集成电路产业现状,论述我国集成电路的设计验证测试、晶圆测试、芯片测试、封装测试等关键测试环节的技术水平,提出进一步发展我国集成电路测试产业的相关建议。
关键词
集成电路
设计验证
晶圆测试
芯片测试
封装测试
发展策略
Keywords
Integrated circuit
Design verification
Wafer testing
Chip testing
Package testing
Development strategies
分类号
TN47 [电子电信—微电子学与固体电子学]
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
我国集成电路测试技术现状及发展策略
俞建峰
陈翔
杨雪瑛
《中国测试》
CAS
2009
32
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