期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
我国集成电路测试技术现状及发展策略 被引量:32
1
作者 俞建峰 陈翔 杨雪瑛 《中国测试》 CAS 2009年第3期1-5,共5页
集成电路在现代电子整机中的应用比重已超过25%,测试是分析集成电路缺陷的最好工具,通过测试可以提高集成电路的成品率。通过分析我国集成电路产业现状,论述我国集成电路的设计验证测试、晶圆测试、芯片测试、封装测试等关键测试环节的... 集成电路在现代电子整机中的应用比重已超过25%,测试是分析集成电路缺陷的最好工具,通过测试可以提高集成电路的成品率。通过分析我国集成电路产业现状,论述我国集成电路的设计验证测试、晶圆测试、芯片测试、封装测试等关键测试环节的技术水平,提出进一步发展我国集成电路测试产业的相关建议。 展开更多
关键词 集成电路 设计验证 晶圆测试 芯片测试 封装测试 发展策略
下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部