在医用诊断X线装置半价层测量中铝板的研究

X线的实效能通常由半价层和吸收物质的吸收系数来决定的,半价层则是由X线衰减一半时的吸收物质的厚度而获得的。在本项研究中,使用了两种型号的A1板作为吸收物质,其中一种A1板的型号为已知的,而另一种则不知,当后一种(未知型号)的A1板被用作吸收物质时,如果能获得一种有参考价值的计算和校定方法则是有意义的。本项研究我们使用电离箱式剂量计测得已知A1的半价层值来校正用热释光剂量计(简称TLD)测得的未知A1的半阶层值,结果发现了一种新的简便的测量半价层的方法。