牙釉质中有机物成分的显微分析研究

本文使用LM、CLSM、SEM、TEM、EDS-X显微分析方法对年轻正畸病人的前磨牙进行成分及断层研究。 牙釉质中的釉梭、釉丛及釉板中的有机成分可以通过常规的光镜确认。并可由CLSM进一步确认。经测量,大多数的釉梭长度为50μm,厚度为4—7μm,大多数局限在牙尖顶部,SEM观察显示单个突起及釉梭从牙本质伸展入牙釉质,釉梭穿插在釉柱中,显示了造牙本质细胞突起远端的分支和聚合。EDS-X分析显示釉梭、釉丛及釉板的钙、磷重量百分比低于釉柱,而釉梭的钙、磷重量百分比高于釉丛与釉板,但这也可能是周围牙釉质的污染所造成的。对牙本质一牙釉质交界处的TEM观察也提示单个突起及釉梭为早期釉质形成过程中,造牙本质细胞突起伸展人牙釉质并由牙釉质包裹所形成。