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超声椭圆振动化学机械抛光原理与实验系统
被引量:
1
1
作者
杨卫平
徐家文
吴勇波
《南京航空航天大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2008年第6期753-757,共5页
介绍了抛光工具超声椭圆振动产生的基本原理,并实际测试了抛光工具的椭圆运动特性。从理论上分析了在抛光工具上加入超声椭圆振动后,对改善和提高抛光效果的作用机理。在上述研究工作基础上,建立了超声椭圆振动辅助抛光实验系统并进行...
介绍了抛光工具超声椭圆振动产生的基本原理,并实际测试了抛光工具的椭圆运动特性。从理论上分析了在抛光工具上加入超声椭圆振动后,对改善和提高抛光效果的作用机理。在上述研究工作基础上,建立了超声椭圆振动辅助抛光实验系统并进行了实验研究。结果表明,该超声椭圆振动辅助抛光法对硅片抛光表面质量、材料去除率均有较显著的改善。
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关键词
超声
椭圆振动
化学机械抛光
复合抛光
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职称材料
硅片边缘超声振动辅助化学机械抛光实验
被引量:
6
2
作者
刘仁鑫
杨卫平
吴勇波
《农业机械学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2010年第2期221-226,共6页
提出一种超声振动辅助化学机械复合抛光硅片边缘新技术,建立了抛光工具设计、性能检测及复合抛光实验系统,并进行了不同超声振动形式传统化学机械以及抛光工具对硅片边缘抛光的实验研究。结果表明,在相同抛光条件下,抛光工具超声椭圆振...
提出一种超声振动辅助化学机械复合抛光硅片边缘新技术,建立了抛光工具设计、性能检测及复合抛光实验系统,并进行了不同超声振动形式传统化学机械以及抛光工具对硅片边缘抛光的实验研究。结果表明,在相同抛光条件下,抛光工具超声椭圆振动对抛光效果的改善作用最佳。抛光工具加入超声椭圆运动后,工件表面粗糙度值Ra由传统抛光法的0.059μm降低到0.043μm,材料去除量增加22%,且抛光表面形貌有明显改善。
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关键词
硅片边缘
超声椭圆振动
复合抛光
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职称材料
超声椭圆振动-化学机械复合抛光硅片实验研究
被引量:
2
3
作者
杨卫平
徐家文
吴勇波
《东南大学学报(自然科学版)》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2008年第5期912-917,共6页
在研制超声椭圆振动-化学机械复合抛光硅片实验装置基础上,进一步开展了抛光压力P,抛光点速度v及抛光液供给量Q等可控工艺参数对硅片抛光表面粗糙度、表面形貌和材料去除率影响的有无超声椭圆振动辅助抛光的对比实验研究.实验结果表明:...
在研制超声椭圆振动-化学机械复合抛光硅片实验装置基础上,进一步开展了抛光压力P,抛光点速度v及抛光液供给量Q等可控工艺参数对硅片抛光表面粗糙度、表面形貌和材料去除率影响的有无超声椭圆振动辅助抛光的对比实验研究.实验结果表明:抛光工具的超声椭圆振动有利于抛光垫保持良好的表面形貌和抛光区获得良好的工作状况,提高硅片材料的去除率;抛光压力对抛光质量的影响最大,抛光速度次之,抛光液供给量影响最小;在最佳抛光效果情况下,可使硅片抛光表面粗糙度值由传统抛光法所获得的Ra0.077μm降到超声辅助抛光法的Ra0.042μm,材料去除率最多可提高18%,并且工件表面形貌有明显改善.
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关键词
超声椭圆振动
化学机械抛光
复合
表面形貌
材料去除率
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职称材料
题名
超声椭圆振动化学机械抛光原理与实验系统
被引量:
1
1
作者
杨卫平
徐家文
吴勇波
机构
南京航空航天
大学
机电学院
江西农业
大学
工学院
日本秋田县立大学机械智能系统工程系
出处
《南京航空航天大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2008年第6期753-757,共5页
文摘
介绍了抛光工具超声椭圆振动产生的基本原理,并实际测试了抛光工具的椭圆运动特性。从理论上分析了在抛光工具上加入超声椭圆振动后,对改善和提高抛光效果的作用机理。在上述研究工作基础上,建立了超声椭圆振动辅助抛光实验系统并进行了实验研究。结果表明,该超声椭圆振动辅助抛光法对硅片抛光表面质量、材料去除率均有较显著的改善。
关键词
超声
椭圆振动
化学机械抛光
复合抛光
Keywords
ultrasonics
elliptic vibration
chemically mechanical polishing
integrate polishing
分类号
TH16 [机械工程—机械制造及自动化]
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职称材料
题名
硅片边缘超声振动辅助化学机械抛光实验
被引量:
6
2
作者
刘仁鑫
杨卫平
吴勇波
机构
江西农业
大学
工学院
日本秋田县立大学机械智能系统工程系
出处
《农业机械学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2010年第2期221-226,共6页
基金
日本秋田县新规事业开发支援基金资助项目(A-2006235)
文摘
提出一种超声振动辅助化学机械复合抛光硅片边缘新技术,建立了抛光工具设计、性能检测及复合抛光实验系统,并进行了不同超声振动形式传统化学机械以及抛光工具对硅片边缘抛光的实验研究。结果表明,在相同抛光条件下,抛光工具超声椭圆振动对抛光效果的改善作用最佳。抛光工具加入超声椭圆运动后,工件表面粗糙度值Ra由传统抛光法的0.059μm降低到0.043μm,材料去除量增加22%,且抛光表面形貌有明显改善。
关键词
硅片边缘
超声椭圆振动
复合抛光
Keywords
Silicon wafer edge
Ultrasonic-elliptic-vibration
Hybrid polishing
分类号
TH16 [机械工程—机械制造及自动化]
TN305.2 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
超声椭圆振动-化学机械复合抛光硅片实验研究
被引量:
2
3
作者
杨卫平
徐家文
吴勇波
机构
南京航空航天
大学
江苏省精密与微细制造技术重点实验室
江西农业
大学
工学院
日本秋田县立大学机械智能系统工程系
出处
《东南大学学报(自然科学版)》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2008年第5期912-917,共6页
基金
日本秋田县新规事业开发支援基金资助项目(A-2006235)
文摘
在研制超声椭圆振动-化学机械复合抛光硅片实验装置基础上,进一步开展了抛光压力P,抛光点速度v及抛光液供给量Q等可控工艺参数对硅片抛光表面粗糙度、表面形貌和材料去除率影响的有无超声椭圆振动辅助抛光的对比实验研究.实验结果表明:抛光工具的超声椭圆振动有利于抛光垫保持良好的表面形貌和抛光区获得良好的工作状况,提高硅片材料的去除率;抛光压力对抛光质量的影响最大,抛光速度次之,抛光液供给量影响最小;在最佳抛光效果情况下,可使硅片抛光表面粗糙度值由传统抛光法所获得的Ra0.077μm降到超声辅助抛光法的Ra0.042μm,材料去除率最多可提高18%,并且工件表面形貌有明显改善.
关键词
超声椭圆振动
化学机械抛光
复合
表面形貌
材料去除率
Keywords
UEV ( ultrasonic elliptic vibration)
CMP ( chemical mechanical polishing )
hybrid
surface morphology
MRR( material remove rate)
分类号
TH16 [机械工程—机械制造及自动化]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
超声椭圆振动化学机械抛光原理与实验系统
杨卫平
徐家文
吴勇波
《南京航空航天大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2008
1
下载PDF
职称材料
2
硅片边缘超声振动辅助化学机械抛光实验
刘仁鑫
杨卫平
吴勇波
《农业机械学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2010
6
下载PDF
职称材料
3
超声椭圆振动-化学机械复合抛光硅片实验研究
杨卫平
徐家文
吴勇波
《东南大学学报(自然科学版)》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2008
2
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职称材料
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