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一次成功对色之活性染料组合的染色特征研究
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作者 陈文政 黄泓璋 赖宝昆 《染整技术》 CAS 2014年第10期10-15,共6页
由染料的直接性、吸尽率、反应性和固着率等4项指标参数,衡量活性染料的亲和力、反应力、匀染性、配伍性等染色性能,并以重现性试验设计探讨高一次成功对色率的特征,评估活性染料的三原色组合;经由车间实染验证,表现了极佳的配伍性和重... 由染料的直接性、吸尽率、反应性和固着率等4项指标参数,衡量活性染料的亲和力、反应力、匀染性、配伍性等染色性能,并以重现性试验设计探讨高一次成功对色率的特征,评估活性染料的三原色组合;经由车间实染验证,表现了极佳的配伍性和重现性,获得了良好的匀染同色调之渐进染着上色。 展开更多
关键词 SERF 重现性 匀染性 配伍性 一次成功对色
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半导体产业微影技术之关键材料——光刻胶
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作者 潘家立 陶玉柱 《集成电路应用》 2003年第3期55-56,共2页
随着半导体器件细微化及集成度的不断提高,微影制程之关键材料——光刻胶已逐步从负型转向正型,再由G-line走向I-line甚至于DUV,永光化学公司已经可以向客户提供适用大于0.8微米制程的G-line光刻胶,以及目前最小可用于0.35微米制程的I-l... 随着半导体器件细微化及集成度的不断提高,微影制程之关键材料——光刻胶已逐步从负型转向正型,再由G-line走向I-line甚至于DUV,永光化学公司已经可以向客户提供适用大于0.8微米制程的G-line光刻胶,以及目前最小可用于0.35微米制程的I-line光刻胶,并已在DUV的研发中取得进展。由于光刻胶性能对于半导体微影效果具直接影响,为协助半导体制造厂对先进制程的要求,永光化学公司将持续开发以提供最新的解决方案。 展开更多
关键词 半导体产业 微影技术 光刻胶
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