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单片机工业测控系统抗干扰、自恢复技术 被引量:3
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作者 丁敏华 林桂凤 《工业控制计算机》 1992年第3期30-31,共2页
高可靠性是工业测控微机系统的关键。工业现场环境复杂,条件恶劣,往往使单片微机系统受干扰,引起系统中某个芯片的误动作.但正常发生的是单片机PC值改变。
关键词 微处理机 测控系统 抗干扰 恢复
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