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附加斜面法用于三维物体面形计算
1
作者
吴平凡
余飞鸿
+1 位作者
李正民
孙扬远
《光电子.激光》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1992年第6期328-332,共5页
本文提出了一种新的三维物体面形计算方法。用硬件电路实现结构光特征提取,然后对畸变光条分布进行总体面形拟合处理。处理中得到附加一个斜面的物体面形,通过同样方法,得到斜面面形。将二者相减,即可得到实际物体面形。和一般方法相比...
本文提出了一种新的三维物体面形计算方法。用硬件电路实现结构光特征提取,然后对畸变光条分布进行总体面形拟合处理。处理中得到附加一个斜面的物体面形,通过同样方法,得到斜面面形。将二者相减,即可得到实际物体面形。和一般方法相比,本文采用的方法具有数据处理量小、速度快、精度高等特点。
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关键词
三维物体
测量
计算
结构光法
原文传递
题名
附加斜面法用于三维物体面形计算
1
作者
吴平凡
余飞鸿
李正民
孙扬远
机构
杭州浙江大学光仪系
出处
《光电子.激光》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1992年第6期328-332,共5页
基金
国家自然科学基金
文摘
本文提出了一种新的三维物体面形计算方法。用硬件电路实现结构光特征提取,然后对畸变光条分布进行总体面形拟合处理。处理中得到附加一个斜面的物体面形,通过同样方法,得到斜面面形。将二者相减,即可得到实际物体面形。和一般方法相比,本文采用的方法具有数据处理量小、速度快、精度高等特点。
关键词
三维物体
测量
计算
结构光法
分类号
TH74 [机械工程—光学工程]
原文传递
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
附加斜面法用于三维物体面形计算
吴平凡
余飞鸿
李正民
孙扬远
《光电子.激光》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1992
0
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