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附加斜面法用于三维物体面形计算
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作者 吴平凡 余飞鸿 +1 位作者 李正民 孙扬远 《光电子.激光》 EI CAS CSCD 北大核心 1992年第6期328-332,共5页
本文提出了一种新的三维物体面形计算方法。用硬件电路实现结构光特征提取,然后对畸变光条分布进行总体面形拟合处理。处理中得到附加一个斜面的物体面形,通过同样方法,得到斜面面形。将二者相减,即可得到实际物体面形。和一般方法相比... 本文提出了一种新的三维物体面形计算方法。用硬件电路实现结构光特征提取,然后对畸变光条分布进行总体面形拟合处理。处理中得到附加一个斜面的物体面形,通过同样方法,得到斜面面形。将二者相减,即可得到实际物体面形。和一般方法相比,本文采用的方法具有数据处理量小、速度快、精度高等特点。 展开更多
关键词 三维物体 测量 计算 结构光法
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