电子探针能谱测定膜厚的E_f理论

研究利用电子探针能谱（ＥＤＳ）检测薄膜厚度的技术。该技术的核心是：①确定特征ｘ射线的临界激发能Ｅｆ；②确定所采用的半经验公式。Ｅｆ方法是一种很好的估测膜厚的近似方法，具有很好的实用价值。文中还探讨了二种确定薄膜Ｅｆ的方法。

Co-γ-Fe_2O_3中包钴层的TEM研究

用自穿孔方法制得了Ｃｏ－γ－Ｆｅ２Ｏ３作高分辨电镜分析用的火棉胶微栅支持膜。对磁粉颗粒的ＥＤＳ线扫描表明Ｃｏ铁氧体主要分布在以γ－Ｆｅ２Ｏ３为芯的表面层，高分辨电子显微像表明表面层Ｃｏ铁氧体的结晶方向为［１１０］平行于长轴，其厚度在２ｎｍ左右，ＣｏＦｅ２Ｏ４外延生长取向并非与芯部γ－Ｆｅ２Ｏ３完全一致。