目的:探讨注意缺陷多动障碍(ADHD)儿童事件相关电位(event related potential,ERP)P300的特点。方法:对100例ADHD患儿(研究组)[注意缺陷为主型(ADHD-I)34例、多动/冲动为主型(ADHD-HI)24例、混合型(ADHD-C)42例)]和100...目的:探讨注意缺陷多动障碍(ADHD)儿童事件相关电位(event related potential,ERP)P300的特点。方法:对100例ADHD患儿(研究组)[注意缺陷为主型(ADHD-I)34例、多动/冲动为主型(ADHD-HI)24例、混合型(ADHD-C)42例)]和100名正常儿童(对照组)前额区(Fz)、中央区(Cz)两个脑区的ERP P300潜伏期及波幅进行检测,比较分析研究组与对照组、ADHD各亚型及不同SNAP-Ⅳ评分分组(1.6~2.0为中度组、〉2.0为重度组)的P300潜伏期及波幅的差异。结果:1与对照组比较,研究组靶刺激在前额区(Fz)及中央区(Cz)P300潜伏期显著延长,波幅降低,差异具有统计学意义(P均〈0.01);2ADHD各亚型组间P300潜伏期与波幅差异无统计学意义(P〉0.05);3不同SNAP-IV评分组间,P300潜伏期与波幅差异无统计学意义(P〉0.05)。结论:ADHD患儿P300的潜伏期显著延长,波幅降低,提示ADHD患儿对信息加工处理的速度减慢,注意力、记忆力缺陷及认知加工能力不足。展开更多
文摘目的:探讨注意缺陷多动障碍(ADHD)儿童事件相关电位(event related potential,ERP)P300的特点。方法:对100例ADHD患儿(研究组)[注意缺陷为主型(ADHD-I)34例、多动/冲动为主型(ADHD-HI)24例、混合型(ADHD-C)42例)]和100名正常儿童(对照组)前额区(Fz)、中央区(Cz)两个脑区的ERP P300潜伏期及波幅进行检测,比较分析研究组与对照组、ADHD各亚型及不同SNAP-Ⅳ评分分组(1.6~2.0为中度组、〉2.0为重度组)的P300潜伏期及波幅的差异。结果:1与对照组比较,研究组靶刺激在前额区(Fz)及中央区(Cz)P300潜伏期显著延长,波幅降低,差异具有统计学意义(P均〈0.01);2ADHD各亚型组间P300潜伏期与波幅差异无统计学意义(P〉0.05);3不同SNAP-IV评分组间,P300潜伏期与波幅差异无统计学意义(P〉0.05)。结论:ADHD患儿P300的潜伏期显著延长,波幅降低,提示ADHD患儿对信息加工处理的速度减慢,注意力、记忆力缺陷及认知加工能力不足。