改革先驱与全球领袖 梅特勒-托利多完全称量解决方案 第一集:完美的质量传递解决方案 梅特勒-托利多比较器

梅特勒-托利多集团作为世界衡器及分析仪器制造业的领袖,以制造出世界上第一台替代法单盘天平而闻名.在近百年的发展过程中,我们始终致力于产品开发和应用,并在世界衡器及仪器领域一直拥有处于领先地位的新技术及新产品.今天,梅特勒-托利多集团在全球范围内拥有近四十家分公司及销售机构,并在瑞士、德国、美国和中国等国家建立了生产基地.梅特勒-托利多仪器(上海)有限公司是梅特勒-托利多集团在华独资企业,并成功通过ISO9001-2000质量体系认证.主要产品包括各类电子天平、实验室分析仪器、热分析及自动化化学系统、过程检测系统以及包装检测系统.

“即插即用”的智能诊断专家——梅特勒·托利多新型智能探头管理系统介绍

“让电极来告诉您何时需要维护和更换！”这是智能电极管理系统ISM提出的创新观念，它的即插即用功能使安装和维护更加方便；高级诊断功能可帮助客户有计划地进行电极更换，从而提高工作效率，降低维护成本。ISM技术使过程分析系统从安装、维护到电极的更换变得更加容易。

梅特勒-托利多参加2011世界制药机械,包装设备与材料中国展

由中国医药保健品进出口商会主办的2011世界制药机械,包装设备与材料中国展（P-MEC China2011）携手2011世界生化、分析仪器与实验室设备中国展以及世界制药原料中国展（CPhI China）于2011年6月21-23日在上海浦东新国际博览中心顺利召开。

梅特勒-托利多参加第八届中国涂料峰会

第八届中国涂料峰会于2011年6月14日在上海市浦东新区淳大万丽酒店召开，本次峰会由荣格工业传媒主办，梅特勒－托利多、阿克苏诺贝尔、奇瑞汽车等企业赞助协办。此次峰会将“第八届汽车涂料及涂装技术研讨会”，“第四届紫外光固化涂料及涂装技术研讨会”，“工业防腐涂料及涂装技术研讨会”及“第三届木器涂料及涂装技术研讨会”进行整合，

梅特勒-托利多超越系列熔点仪全新上市——熔点仪新概念:自动测量与视频记录同步

瑞士梅特勒-托利多于2009年4月推出称为“超越”系列的全新毛细管熔点仪MP50、MP70和MP90。超越系列熔点仪带来了熔点测定新概念：自动测量与视频记录同步。

梅特勒-托利多NewClassic系列天平全新上市——传承经典,超越品质

梅特勒-托利多全新NewClassic系列天平即将上市，NewClassic系列天平是面对各种业务挑战而开发的新一代分析和精密天平，上市后将逐步替代现有的经典B系列和L-IC系列天平。“Classic”表示延续了梅特勒-托利多作为称量领域的领先者，长期以来积累的传统和先进技术，以及倍受客户赞赏的天平系列和型号；而“New”标志着梅特勒-托利多不断创新的能力：全新的研发平台，众多新的产品特性和新的功能设计。

水分测定新纪元 梅特勒-托利多卡尔费休水分滴定仪

通常情况下,制造高品质产品所需的许多原料、中间体的质量和使用性能很大程度上取决于其中的水分含量。要使产品质量有保证并最大程度保持之,含水量的常规控制便显得必不可少。 由于高效、快速和精确的特点,卡尔费休滴定法是测定水分的一种重要方法。它的选择性,使其依然满足当今测定的需求。相反,传统的烘干法测定水分暴露出许多系统误差,其效率低、速度慢则显而易见。

从最基本的称重到复杂的实验及生产应用——梅特勒-托利多时时和您在一起

总部设在瑞士苏黎世的梅特勒-托利多集团是世界上最大的衡器及分析仪器制造商,以制造出世界上第一台电子天平而闻名,在全球范围内拥有35家分公司及销售机构,并在瑞士、美国和中国等国家拥有生产基地,集团共有员工6600人,年销售额达8.5亿美元。

第二集:天平世界领袖梅特勒-托利多电子天平

专业型超微量,微量天 平UMX/MX系列可读性:0.1μg,1μg最大称量值:2100mg～5100mg 称量部件与显示部件分离,避免元件发热对称量值的影响。 无需用手就可操作防风门,去皮与打印(SmartSens)。 触摸屏设计,可调视角的背亮式显示屏。 多达8种的个性化设定。 全自动校准并对结果线性化(Pro-FACT)。 MinWeigh设置带来的独特称量确定性。

瑞士之星：梅特勒—托利多STAR^e热分析系统

本文介绍了瑞士梅特勒－－托利多仪器公司的ＳＴＡＲ热分析系统。该系统是目有世界上 热分析产品。文中特别介绍了示差扫描量热仪ＤＳＣ８２１和热失重／差热同步分析仪ＴＧＡ／ＳＤＴＡ／ＤＳＣ８５１具有５６对金／金－钯热电耦的可更换陶瓷ＤＳＣ传感器、温度调制ＤＳＣ（ＡＤＳＣ）功能、独特的单坩技术（ＳＣＴＡ／ＤＳＣ专利），ＭａｘＲｅｓ高分辨功能和独特的ＦｌｅｘＣａｌ全方位标准功能及现代化的动力学软件等。

我国的高精度质量比较仪M-one

我国的原器天平,在20世纪60年代为奥地利生产的全机械式双盘等臂天平,从20世纪90年代末,采用德国Sartorius公司生产的C1000S作为质量量值传递的原器基准天平。2005年3月4日,在中国计量科学研究院质量实验室安装了瑞士Mettler Toledo公司生产的真空质量比较仪M-one,它将替代原有的基准配套设备,成为我国最新一代的原器天平。本文介绍了真空质量比较仪M-one的技术指标、工作原理、安装过程和部分测试结果。

CN_x薄膜热稳定性的TG-MS研究

首次在氩气气氛中对用磁控溅射法制备的 CNx 薄膜的热稳定性进行了 TG- MS研究。实验结果表明 ,CNx 薄膜在室温至 70 0°C左右约有 7%的失重。经 MS表征 ,在 1 80°C,3 90°C,540°C分别检测出 C+ (m/z=1 2 ) ,NO+ (m/z=3 0 ) ,O+2 (m/z=3 2 ) ,CO+2 (m/z=44) ,CN+ (m/z=2 6 ) ,C2 N+2(m/z=52 )和 NO+2 (m/z=46 )等正离子质谱峰。在 70 0～ 1 40 0°C温区内 ,出现了 42 .8%的失重 ,MS表征在 1 0 0 0°C左右有 C+ (m/z=1 2 ) ,O+2 (m/z=3 2 ) ,CO+2 (m/z=44) ,NO+2 (m/z=46 )正离子质谱峰 ,还对 CNx

示差扫描量热仪：光学显微镜（FP84HTDSC—PLM）联用热分析技术

本文概述梅特勒公司产品之一的ＣＳＣ－ＰＬＭ示差扫描量热仪与光学显微镜联用。它广泛应用于聚合行科学和工程、化学工业、生物化学等的科研及生产监测。一机多用，同步测量热流和结构形态变化。

随机温度调制DSC技术TOPEM的理论和应用

介绍一种称作TOPEM的温度调制差示扫描量热技术[1],由瑞士梅特勒-托利多公司开发。该技术基于随机温度调制,是一般温度调制DSC理论的结果。无需进一步校准,在单次实验中就能测定准稳态比热和宽频范围的频率依赖的复合比热。而且,从测试的数据可直接测定可逆和不可逆热流,并可从热力学上将这两个热流分别与显热流和潜热流相关联。应用实例显示了TOPEM实验的线性行为测试和稳态测试(一致性检查)、玻璃化转变的频率依赖性、热固性树脂的等温固化、固-固转变、可逆熔融和不可逆熔融等。

高灵敏度DSC技术的突破性进展

差示扫描量热技术（DSC）的发展已有半个世纪的历史，但DSC在灵敏度方面一直没有获得质的飞跃。美国《R＆D杂志》（R＆D Magazine）2006年9月版宣布，配置HSS7的梅特勒一托利多仪器有限公司的DSC823。差示扫描量热仪由于其在灵敏度方面的突破性进展而获得了2006年R＆D100热分析仪器类大奖。

半导体行业中超纯水的质控

USP(《美国药典》)对超纯水的质量有着严格的规定,是半导体厂商良好的参考标准,梅特勒-托利多SevenMulti模块化多功能仪表,内置USP表格,完全满足USP要求。

制药纯水电导率分析仪表校准

从相关法规对制药用水电导率分析仪器的要求入手,介绍了电导率传感器电极常数的验证和校准、电导率变送器(测量回路)的验证和校准、电导率分析仪器/仪表的系统校准验证。认为利用校准好的电导率标准测量系统、可追溯模拟阻抗器、校准好的标准电导率传感器进行的比对法电导率分析系统校准方式优势凸显,不失为更先进、精确可靠的电导率测量系统校准技术。