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题名嵌入式系统中的内生存储器PUF研究综述
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作者
陈帅
蔡敏
杨志勇
曾集丰
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机构
武汉二进制半导体有限公司-磐石安全实验室
武汉二进制半导体有限公司
南洋理工大学电子工程学院
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出处
《集成电路与嵌入式系统》
2024年第9期7-16,共10页
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文摘
物理不可克隆函数(Physical Unclonable Functions,PUF)可视为一种“芯片指纹”,具有轻量级、不可预测、难以克隆等特性,已经成为物联网硬件安全机制的重要组成部分。然而,传统PUF的实现需要在硬件层面增加FPGA或专用集成电路,会增加硬件成本。对于数以亿计的现有物联网嵌入式设备,难以通过硬件改造来增加PUF安全属性。因此,从现有设备的硬件结构中挖掘固有PUF(Intrinsic PUF,IPUF)成为PUF研究与产业化的关键组成部分。本工作将对已有的IPUF,尤其是基于存储器的IPUF(Memroy based Intrinsic PUF,MIPUF)相关工作进行系统综述,并针对IPUF在现有系统中的可实现性及未来的发展方向进行讨论,以推动该技术的工程应用。
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关键词
PUF
SRAM
DRAM
FLASH
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Keywords
PUF
SRAM
DRAM
Flash
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分类号
TP872
[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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