光纤端面多层膜反射率的干涉测量方法研究

应用干涉法实现光纤端面多层透明膜系反射率的测量。利用镀有反射膜的待测光纤端面,构成F-P干涉仪,根据透射光谱的自由谱宽和干涉峰的半宽值,计算出膜系反射率,可直接获得光纤端面上薄膜的真实反射率,并避免了光源波动对测量结果的影响。在用反射率为92％-98.6％的膜系所进行的实验中,测量误差小于-0.09％。分析了误差来源。

光纤端面多层膜反射率的干涉测量方法研究

为了解决光纤端面透明反射膜反射率的精确测量问题,利用镀有反射膜的待测光纤端面,构成法布里-珀罗(F-P)干涉仪,根据其透射光谱的自由谱宽和干涉峰的半宽值,计算出膜系反射率,避免了光源波动对测量结果的影响。在用反射率为92.0～98.6%的膜系所进行的实验中,测量误差小于0.09%。分析了误差来源。