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采集Maker条纹的光电系统
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作者 陈水波 《计量技术》 2006年第9期15-19,共5页
利用测得的Maker条纹求出非线性光学介质的有效非线性系数,是一种常用的方法。Maker条纹反映的是二次谐波的透射功率和基频光束外部入射角的关系,测量Maker条纹的光电系统的主要作用就是采集若干对二次谐波的透射功率和对应的基频光的... 利用测得的Maker条纹求出非线性光学介质的有效非线性系数,是一种常用的方法。Maker条纹反映的是二次谐波的透射功率和基频光束外部入射角的关系,测量Maker条纹的光电系统的主要作用就是采集若干对二次谐波的透射功率和对应的基频光的入射角。首先就Maker条纹及相关问题作了简要的介绍,然后对测量Maker条纹的光电系统的组成、工作原理作了详细的分析。用Maker条纹求介质的有效非线性系数,还得知道Maker条纹的包络函数,而包络函数是由Maker条纹的极大值点来确定的;怎样用测量Maker条纹的光电系统来确定这些极大值点,就成为了一个非常重要和关键的问题,本文对这一问题作了分析和讨论。最后,对测量数据的处理方法和测量结果的不确定度作了介绍。 展开更多
关键词 非线性光学 Maker条纹 光电系统 极大值点
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