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X射线多晶衍射试验中FWHM测量的影响因素 被引量:1
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作者 许聚良 郭敬娜 《理化检验(物理分册)》 CAS 2013年第11期731-735,共5页
简单介绍了X射线多晶衍射中FWHM的定义及应用。单纯从试验技术的角度出发,使用荷兰Philips公司生产的X'Pert MPD Pro型衍射仪,以Philips公司提供的标准多晶硅片为试样.逐一考察了仪器设置、程序设置、试样制备以及试验数据处理等因... 简单介绍了X射线多晶衍射中FWHM的定义及应用。单纯从试验技术的角度出发,使用荷兰Philips公司生产的X'Pert MPD Pro型衍射仪,以Philips公司提供的标准多晶硅片为试样.逐一考察了仪器设置、程序设置、试样制备以及试验数据处理等因素对于FWHM测量结果的影响并分析了其中的原因。在此基础上总结出精确测量FWHM的一套试验方法。 展开更多
关键词 X射线多晶衍射 FWHM X射线管 狭缝 影响因素
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