关于G652D光纤宏弯损耗测试方法的实践及数据分析

通过对G652D光纤宏弯损耗的测试跟踪，比较Φ60mm＊100圈和Φ32mm＊1圈两种方法的数据差异，同时利用大量数据观察了光纤宏弯损耗与截止波长的相关性。