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单晶硅材料补偿度的确定
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作者 程元生 《半导体杂志》 1994年第4期36-46,共11页
本文叙述了p型及n型硅材料杂质补偿度确定的各种方法,并评述了各种方法的实验条件及其优缺点,还指出了目前我国各单位采取的简单而较可靠的方法。
关键词 单晶硅补偿度 单晶硅 半导体材料
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