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超高频晶体管共晶装片中eb结失效的分析
被引量:
1
1
作者
吴振江
《电子产品可靠性与环境试验》
1997年第5期31-32,共2页
关键词
超高频晶体管
共晶装片
eb结
失效
下载PDF
职称材料
大生产中超高频低噪声管失效分析
2
作者
吴振江
《电子器件》
CAS
1996年第3期179-183,共5页
本文介绍了大生产中超高频低噪声管的失效现象,对生产结果进行了讨论,亦提出了新的工艺方法。
关键词
失效分析
EB结构
软击穿
低噪声晶体管
下载PDF
职称材料
题名
超高频晶体管共晶装片中eb结失效的分析
被引量:
1
1
作者
吴振江
机构
江阴长江电子实业总公司
出处
《电子产品可靠性与环境试验》
1997年第5期31-32,共2页
关键词
超高频晶体管
共晶装片
eb结
失效
分类号
TN323.206 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
大生产中超高频低噪声管失效分析
2
作者
吴振江
机构
江阴长江电子实业总公司
出处
《电子器件》
CAS
1996年第3期179-183,共5页
文摘
本文介绍了大生产中超高频低噪声管的失效现象,对生产结果进行了讨论,亦提出了新的工艺方法。
关键词
失效分析
EB结构
软击穿
低噪声晶体管
Keywords
Failure analysis Soft Dreahdown of EB junction
分类号
TN322.6 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
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1
超高频晶体管共晶装片中eb结失效的分析
吴振江
《电子产品可靠性与环境试验》
1997
1
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职称材料
2
大生产中超高频低噪声管失效分析
吴振江
《电子器件》
CAS
1996
0
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职称材料
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