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激光显微光谱法测定ITO导电膜中的Sn
被引量:
2
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作者
郭庆林
杨志平
《光谱学与光谱分析》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
1993年第6期57-60,共4页
本文利用激光显微光谱,涂片法制备样品,采用“S-M”法对ITO导电膜中Sn进行定量分析,结果比较满意。
关键词
S-M法
ITO
导电膜
激光显微光谱
锡
下载PDF
职称材料
题名
激光显微光谱法测定ITO导电膜中的Sn
被引量:
2
1
作者
郭庆林
杨志平
机构
河北大学物理系固体发光室
出处
《光谱学与光谱分析》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
1993年第6期57-60,共4页
文摘
本文利用激光显微光谱,涂片法制备样品,采用“S-M”法对ITO导电膜中Sn进行定量分析,结果比较满意。
关键词
S-M法
ITO
导电膜
激光显微光谱
锡
Keywords
S-M method, ITO film
分类号
O484.5 [理学—固体物理]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
激光显微光谱法测定ITO导电膜中的Sn
郭庆林
杨志平
《光谱学与光谱分析》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
1993
2
下载PDF
职称材料
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