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激光显微光谱法测定ITO导电膜中的Sn 被引量:2
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作者 郭庆林 杨志平 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1993年第6期57-60,共4页
本文利用激光显微光谱,涂片法制备样品,采用“S-M”法对ITO导电膜中Sn进行定量分析,结果比较满意。
关键词 S-M法 ITO 导电膜 激光显微光谱
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