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用摄影测量对紧缩场反射器表面进行精度检测的可行性研究
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作者 周国芬 邵锡惠 《地矿测绘》 1997年第2期21-24,17,共5页
本文根据紧缩场系统反射器表面精度检测的基本要求,制定了一套完整的摄影测量理论和方法,并利用模拟目标进行实际的试验研究、精度统计及分析。理论研究和试验结果表明,本理论及方法是正确的、可行的,用于反射器表面精度检测可以满... 本文根据紧缩场系统反射器表面精度检测的基本要求,制定了一套完整的摄影测量理论和方法,并利用模拟目标进行实际的试验研究、精度统计及分析。理论研究和试验结果表明,本理论及方法是正确的、可行的,用于反射器表面精度检测可以满足要求。 展开更多
关键词 摄影测量 紧缩场 反射器 精度检测 直接线性变换 光线束法 微波天线 外方位元素 数学模型 精密立体坐标量测仪
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