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父母接触汞蒸气对子代智力发育影响的研究 被引量:1
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作者 李洪 陈琛 +4 位作者 杨廷章 邓中平 马玉英 卫文功 任丁升 《工业卫生与职业病》 CAS CSCD 1993年第5期262-264,共3页
用美国丹佛智力筛查法(DDST),调查父母接触汞蒸气的子女(6岁以下)156人,对照组48人。父母作业环境汞蒸气浓度:平均0.0185mg/m^3(范围O.001~0.060mg/m^3)。在动作能、应物能、言语能和应人能四个检测项目中,父母接汞组儿童智力发育水平... 用美国丹佛智力筛查法(DDST),调查父母接触汞蒸气的子女(6岁以下)156人,对照组48人。父母作业环境汞蒸气浓度:平均0.0185mg/m^3(范围O.001~0.060mg/m^3)。在动作能、应物能、言语能和应人能四个检测项目中,父母接汞组儿童智力发育水平低于对照组,其中应物能最敏感。尿汞高于0.01mg/L的儿童智力发育迟长率比尿汞低于0.01mg/L的儿童高,说明儿童体内汞负荷与智力发育有关。调查结果表明:父母从事汞作业可对子代智力发育产生不良影响。 展开更多
关键词 智力发育 儿童 遗传
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