-
题名半导体器件的封装技术与可靠性研究
- 1
-
-
作者
范雯雯
-
机构
浙江固驰电子有限公司
-
出处
《中国高新科技》
2024年第11期92-94,共3页
-
文摘
文章重点探索和分析了半导体器件封装技术及技术应用的可靠性,以提升半导体器件在各种环境下高质量应用。以理论与实践相结合的方式,对半导体器件的封装技术进行分析,例如封装工艺、芯片保护、电气功能实现等技术内容,可为提升封装耐久性和稳定性提供有效途径。同时,针对封装技术应用的可靠性进行优化。研究发现应用封装材料及技术的先进性改良,可提升器件封装热循环能力、机械承受能力等,相关研究数据表明,经过优化后的半导体器件封装技术,能够延长设备自身的使用寿命,对高性能电子设备的应用提供有力技术支持。
-
关键词
半导体
器件
封装技术
可靠性
-
Keywords
semiconductors
devices
packaging technology
reliability
-
分类号
O471
[理学—半导体物理]
-