复杂型热性惊厥临床和脑电图特征与日后癫痫发生关系的研究

目的观察热性惊厥患者的临床与脑电图特征，并探讨其与日后癫痫发生的联系。方法选取我院2011年1月～2012年12月诊断的128例热性惊厥患者为研究对象，对其进行脑电图检查．并分析其与癫痫发生之间的联系。结果脑电图结果正常患者82例，占64．1％；脑电图异常46例，占35．9％。异常脑电图特征显示全导阵发性3．0～4．0Hz的棘慢波，且清醒与睡眠期均存在放电。脑电图异常与初发年龄、EP家族史、发热温度、热性惊厥类型、持续时间、24h内发作次数有关，共35例日后发生癫痫，发生率为76．1％。枕区和额区放电是日后癫痫发生的危险因素。结论临床中枕区和额区阵发性异常放电的热性惊厥患者日后更容易发生癫痫，临床中应引起足够的重视。