基于信息的开放式自动测试系统技术结构分析

针对自动测试系统及设备研制过程中存在的互操作性差、结构开放性弱、保障费用高等难题,文章通过对通用ATS技术结构的深入分析,提出基于信息的开放式自动测试系统技术结构和接口标准,对推动国内自动测试系统及设备的建设向系列化、通用化、综合化和模块组合化方向发展,形成系统开放、结构完善、性能优越、技术先进的自动测试设备系列型谱,具有重要的指导作用。

含ROM和RAM芯片的数字电路板测试生成

针对数字电路板中含ROM和RAM芯片电路板故障诊断难的现状,采用器件等效模型方法和改进的组合时序电路测试生成算法,研制开发了一套支持ROM/RAM器件测试生成、集电路模型输入、测试生成算法、故障仿真及IEEE-1445标准测试数据转换功能于一体的数字电路板故障诊断测试数据自动生成系统,应用结果表明,该系统测试生成效率高、故障诊断精度高,具有一定的实用性和推广价值。

模拟电路故障字典开发平台

针对模拟电路板故障诊断和维修中存在的困难,引入基于故障字典法的模拟电路故障字典开发平台,该平台集成了电路模型图形化输入、元器件故障自动插入、交流频率自动选取、诊断测试点优选等关键技术,通过对电路的自动仿真与数据分析实现了模拟电路故障诊断用故障字典的自动生成;通过结合实际模拟电路板验证表明,应用该平台可有效避免传统依赖人工分析进行故障诊断遇到的各种难题,对提高模拟电路板故障诊断效率以及实现模拟电路板的自动测试都具有重要意义。