Flash ROM的X微束辐照试验研究及失效机理分析

Flash ROM芯片的存储阵列和外围电路均具有较高的辐射易损性,辐射损伤模式多样。为对其辐射敏感电路进行定位和分析,本文采用X射线微束开展局部辐照试验研究。分别研究了存储阵列,译码电路以及电荷泵等不同电路模块所引起的失效表征,利用错误位的逻辑地址映射图,总结错误分布规律,结合相应电路结构对其失效机理进行分析。辐照存储阵列会导致规则分布的0→1翻转错误,而译码电路出错会导致1→0的错误,电荷泵电路退化则会导致器件擦除和写入功能的失效。微束辐照结果可以有效补充全芯片总剂量效应考核的不足,为器件的抗辐射加固提供有益的参考。

语音信号短时分析算法研究与实现

在通信领域中,语音信号的研究层出不穷,语音信号处理是以语音语言学和数字信号处理为基础而形成的一门涉及面很广的综合性学科,其中,短时分析给语音信号处理提供了有力的分析方法。本文研究了语音信号的分析方法,即短时能量与短时平均幅度分析、短时过零率分析、短时相关分析、短时傅里叶变换分析,并利用MATLAB对语音信号的短时分析进行了算法实现。