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半导体器件失效分析与检测 被引量:7
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作者 付鸣 《仪表技术与传感器》 CSCD 北大核心 1997年第12期35-38,共4页
本文对半导体器件的失效做了详尽分析,并介绍了几种常用的失效检测方法。
关键词 半导体器件 失效分析 失效检测
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