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半导体器件失效分析与检测
被引量:
7
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作者
付鸣
《仪表技术与传感器》
CSCD
北大核心
1997年第12期35-38,共4页
本文对半导体器件的失效做了详尽分析,并介绍了几种常用的失效检测方法。
关键词
半导体器件
失效分析
失效检测
下载PDF
职称材料
题名
半导体器件失效分析与检测
被引量:
7
1
作者
付鸣
机构
深圳市深爱半导体公司
出处
《仪表技术与传感器》
CSCD
北大核心
1997年第12期35-38,共4页
文摘
本文对半导体器件的失效做了详尽分析,并介绍了几种常用的失效检测方法。
关键词
半导体器件
失效分析
失效检测
Keywords
Semiconductor,Device,Failure Analysis,Testing.
分类号
TN307 [电子电信—物理电子学]
TP211.51 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
半导体器件失效分析与检测
付鸣
《仪表技术与传感器》
CSCD
北大核心
1997
7
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