X射线荧光光谱法测定长石的化学成分

采用粉末压片制样、Ｘ射线荧光光谱仪测定长石的化学组成，可获高准确度和高精密度的分析结果，测定值与化学法及推荐值相符，重复１０次测定主、次量组分的ＲＳＤ＜０．６％，痕量组分ＲＳＤ＜３％。方法简便快捷，分析时间仅为传统湿法化学分析的１／８。