半导体器件失效分析与检测

本文对半导体器件的失效做了详尽分析，并介绍了几种常用的失效检测方法。

晶体管的温度特性以及使用中应注意的问题

叙述了晶体管的负温度特性以及在晶体管的制造过程中如何改进晶体管的温度特性。

用掺氧多晶硅钝化技术制造高可靠高压晶体管

论述了 SIPOS钝化的原理、生产 SIPOS晶体管的工艺步骤 。