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计算机图像处理技术应用于晶振元件缺陷检测
被引量:
4
1
作者
李兵
邓善熙
李焕然
《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2003年第z2期397-398,共2页
为了对工业现场中晶振元件的缺陷进行检测,本文采用一种基于计算机图像处理的方法,由传统目测方法得到缺陷晶振的一般特征,然后对计算机采集到的图像按照缺陷分类,对每一种缺陷进行图像预处理和分析,在图像的分割中采用最优阈值统计算法...
为了对工业现场中晶振元件的缺陷进行检测,本文采用一种基于计算机图像处理的方法,由传统目测方法得到缺陷晶振的一般特征,然后对计算机采集到的图像按照缺陷分类,对每一种缺陷进行图像预处理和分析,在图像的分割中采用最优阈值统计算法,实验结果表明该算法能够达到预期的识别目的。
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关键词
缺陷检测
最优阈值
图像分割
晶振
下载PDF
职称材料
最优阈值法检测晶振缺陷
被引量:
3
2
作者
李兵
邓善熙
李焕然
《电子质量》
2003年第8期J016-J017,共2页
为了对工业现场中晶振元件的缺陷进行检测,本文采用一种基于计算机图像处理的方法,由传统目测方法得到缺陷晶振的一般特征,然后对计算机采集到的图像按照缺陷分类,对每一种缺陷进行图像预处理和分析,在图像的分割中我们采用的是最优阈...
为了对工业现场中晶振元件的缺陷进行检测,本文采用一种基于计算机图像处理的方法,由传统目测方法得到缺陷晶振的一般特征,然后对计算机采集到的图像按照缺陷分类,对每一种缺陷进行图像预处理和分析,在图像的分割中我们采用的是最优阈值统计算法,实验结果表明该算法能够达到预期的识别目的。
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关键词
最优阈值
缺陷检测
计算机图像
缺陷晶振
图像分割
晶体振荡器
下载PDF
职称材料
题名
计算机图像处理技术应用于晶振元件缺陷检测
被引量:
4
1
作者
李兵
邓善熙
李焕然
机构
合肥工业大学仪器仪表学院
深圳翠涛电子科技有限公司
出处
《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2003年第z2期397-398,共2页
文摘
为了对工业现场中晶振元件的缺陷进行检测,本文采用一种基于计算机图像处理的方法,由传统目测方法得到缺陷晶振的一般特征,然后对计算机采集到的图像按照缺陷分类,对每一种缺陷进行图像预处理和分析,在图像的分割中采用最优阈值统计算法,实验结果表明该算法能够达到预期的识别目的。
关键词
缺陷检测
最优阈值
图像分割
晶振
Keywords
Defect inspection
Optimum threshold value
Image segmentation Crystal oscillator
分类号
TP39 [自动化与计算机技术—计算机应用技术]
下载PDF
职称材料
题名
最优阈值法检测晶振缺陷
被引量:
3
2
作者
李兵
邓善熙
李焕然
机构
合肥工业大学仪器仪表学院
深圳翠涛电子科技有限公司
出处
《电子质量》
2003年第8期J016-J017,共2页
文摘
为了对工业现场中晶振元件的缺陷进行检测,本文采用一种基于计算机图像处理的方法,由传统目测方法得到缺陷晶振的一般特征,然后对计算机采集到的图像按照缺陷分类,对每一种缺陷进行图像预处理和分析,在图像的分割中我们采用的是最优阈值统计算法,实验结果表明该算法能够达到预期的识别目的。
关键词
最优阈值
缺陷检测
计算机图像
缺陷晶振
图像分割
晶体振荡器
Keywords
defect inspection, optimum threshold value, image segmentation, crystal oscillator
分类号
TN752 [电子电信—电路与系统]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
计算机图像处理技术应用于晶振元件缺陷检测
李兵
邓善熙
李焕然
《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2003
4
下载PDF
职称材料
2
最优阈值法检测晶振缺陷
李兵
邓善熙
李焕然
《电子质量》
2003
3
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职称材料
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