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题名一种基于JTAG的SOC测试电路设计及实现
被引量:5
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作者
郑晓光
白国强
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机构
清华大学微电子学研究所清华信息技术国家实验室(筹)
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出处
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2009年第1期187-189,192,共4页
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基金
国家"八六三"计划项目(2006AA01Z415)
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文摘
提出了一种基于JTAG的新的测试电路设计思路.通过扩展JTAG指令,可以利用JTAG通信协议向SOC芯片中下载自定义的测试指令,并读回测试的最终结果.该方法可以对SOC内部的IP及存储器进行充分的功能测试,测试过程可灵活配置,可以快速定位测试中出现的问题.
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关键词
JTAG
TAP
SOC
测试
可复用IP
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Keywords
JTAG
TAP
SOC
test
reusable IP
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分类号
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名一种适用于VLIW数字信号处理器的嵌入调试结构
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作者
雷庭
何虎
孙义和
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机构
清华大学微电子学研究所清华信息技术国家实验室
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出处
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2010年第7期1-6,共6页
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基金
国家自然科学基金项目(60236020)
高等学校博士学科点专项科研基金项目(20050003083)
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文摘
超长指令字(Very Lone Instruction Word,VLIW)结构是数字信号处理器(DSP)设计中的一种常用结构.用户在开发应用程序的过程中常常会出现错误,查找并修复错误的调试过程要求芯片具有硬件调试功能.对此提出了一种适用于VLIW结构DSP的嵌入调试结构,通过为数不多的调试接口,能够观察芯片的内部信号,设置芯片的状态,控制程序执行过程,从而实现芯片的硬件调试.最后,在一款VLIW结构的DSP——THUASDSP2004上,实现了提出的嵌入调试结构.
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关键词
数字信号处理器
超长指令字
调试
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Keywords
DSP
VLIW
debug
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分类号
TN4
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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