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一种基于JTAG的SOC测试电路设计及实现 被引量:5
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作者 郑晓光 白国强 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2009年第1期187-189,192,共4页
提出了一种基于JTAG的新的测试电路设计思路.通过扩展JTAG指令,可以利用JTAG通信协议向SOC芯片中下载自定义的测试指令,并读回测试的最终结果.该方法可以对SOC内部的IP及存储器进行充分的功能测试,测试过程可灵活配置,可以快速定位测试... 提出了一种基于JTAG的新的测试电路设计思路.通过扩展JTAG指令,可以利用JTAG通信协议向SOC芯片中下载自定义的测试指令,并读回测试的最终结果.该方法可以对SOC内部的IP及存储器进行充分的功能测试,测试过程可灵活配置,可以快速定位测试中出现的问题. 展开更多
关键词 JTAG TAP SOC 测试 可复用IP
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