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BIST增强IC的可测性
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作者 丹.罗曼西克 吴行军 《国外电子测量技术》 1995年第3期4-6,共3页
随着ICS越来越复杂,对其进行测试变得越来越困难。复杂的时序电路,如微处理器,可能需要数百万条测试矢量来检测故障。对有些电路,如片内RAM,生成和运行传统的测试矢量几乎是不可能的。用大量的测试矢量进行测试意味着很长的测试时间和... 随着ICS越来越复杂,对其进行测试变得越来越困难。复杂的时序电路,如微处理器,可能需要数百万条测试矢量来检测故障。对有些电路,如片内RAM,生成和运行传统的测试矢量几乎是不可能的。用大量的测试矢量进行测试意味着很长的测试时间和很高的测试费用。 展开更多
关键词 集成电路 可测性 BIST
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生物电子与集成电路技术
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作者 王志华 《中国科技成果》 2003年第8期21-24,共4页
本文论述与生物电子技术密切相关的集成电路技术.介绍生物电子在人类健康、疾病康复以及国防中的应用,并简单讨论北京地区开展生物电子相关研究的基础以及对开展相关研究的建议.
关键词 生物电子技术 集成电路技术 应用 人脑 电脑 交互控制
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