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与电化学C-V测量相结合的光压谱(PVS)技术
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作者 王健华 刘小明 张剑 《半导体光电》 CAS CSCD 北大核心 1991年第3期289-293,共5页
本文介绍了与电化学C-V测量相结合的光压谱技术的基本原理、实验装置及其在研究化合物半导体材料方面的应用。
关键词 化合物半导体 光压谱 电化学 测量
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