磁敏感加权成像对弥漫性轴索损伤的诊断价值

目的探讨磁敏感加权成像(SWI)对弥漫性轴索损伤(DAI)的诊断价值。方法对40例临床拟诊DAI病例常规T2WI,液体衰减反转恢复(FLAIR)序列和磁共振扩散加权(DWI)及磁敏感加权(SWI)扫描。结果 SWI可清楚显示29例DAI的颅内异常小出血灶,表现为点状、条索状、类圆形或串珠状的低信号影,检出率为72.5%,常规T2WI序列检出率为27.5%(11/40),FLAIR序列检出率为47.5%(19/40),DWI序列检出率为55.0%(22/40)。结论 SWI能非常敏感地检出外伤后弥漫性轴索损伤患者的脑内小出血灶。