母源PAK3新发剪接变异导致X连锁智力障碍1例患儿的分析

目的探讨1例具有严重智力障碍和明显行为异常的患儿的遗传学病因。方法采集2020年12月2日就诊于武汉大学中南医院的1例具有智力障碍和行为异常患儿及其父母的外周血样,进行全外显子组测序,并通过Sanger测序对其家系成员进行共分离验证。采用短串联重复序列分析对患儿母亲携带的变异进行溯源,并通过minigene实验对剪接变异进行体外功能验证。结果全外显子组测序发现患儿携带母源性PAK3基因c.176-2A>G剪接变异。Sanger测序及短串联重复序列分析证实其母亲携带的变异为新发变异。Minigene实验结果证实其第2外显子存在异常剪接。根据美国医学遗传学与基因组学学会变异相关指南,该变异评级为致病性变异(PVS1+PS3+PM2_Supporting+PP3)结论PAK3基因c.176-2A>G变异可能是患儿的遗传学病因。上述发现丰富了PAK3基因的变异谱,为患儿家庭的遗传咨询和产前诊断提供了依据。