新生儿缺氧缺血性脑病相关因素分析及CT诊断意义

目的研究围生期各种相关因素与新生儿缺氧缺血性脑病(HIE)发病的关系,并探讨CT诊断新生儿缺氧缺血性脑病的临床意义。方法回顾分析2001年1月～2008年1月213例本院住院HIE新生儿的病历资料,同时随机选取同期住院治疗213例无HIE新生儿作对照组。HIE组患儿均在生后4～10天(平均6天)进行头颅CT平扫检查确诊。观察两组患儿和母亲的情况,采用单因素分析和逐步Logistic回归分析的方法,筛选HIE发病的危险因素。结果在诸多相关因素中两组患儿有10个围生因素存在显著性差异,是HIE的易感因素,分别为新生儿窒息、Apgar评分、胎儿宫内窘迫、出生后患儿抽搐、胎盘异常、羊水Ⅲ度混浊、第二产程延长、妊高征、脐带因素、治疗初期并发低血糖。其中新生儿窒息、胎儿宫内窘迫、妊高征、治疗初期并发低血糖是HIE的高危因素。结论目前HIE诊断仍以临床表现为主要依据,辅佐头颅CT平扫检查具有重要意义。加强围生期保健,及时处理产前产时合并症及胎儿窘迫等对HIE的预防有重要临床意义。