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题名基于SAK-C167单片机的智能IC测试仪设计
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作者
陈琦
丁丽娜
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机构
哈尔滨光宇电气自动化公司
滨绥化学院
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出处
《创新科技》
2014年第20期78-79,共2页
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基金
绥化学院杰出青年基金项目,项目编号：SJ13005.
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文摘
针对一些IC 芯片类电子元件进行检验困难的问题,如RAM、ROM、FLASH 或单片机等芯片,设计了智能IC 检测仪器,此测试仪基于C167 单片机,通过IO 扩展接口和被测芯片测试板连接,对被测芯片进行功能性验证,并通过液晶显示出结果,也可以由CAN 接口将结果传递给其他设备或上位机.经实际验证,此测试仪具有简单、可靠的特点,降低了IC测试的复杂性和测试成本.
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关键词
C167
测试仪
单片机
IC测试[
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分类号
TP368.12
[自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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